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        MultiMode 8 原子力顯微鏡

        簡要描述:MultiMode 8 原子力顯微鏡屬于高分辨掃描探針顯微鏡,可快速自動掃描成像,功能更完善,具有更多功能,搭配全新研發的AFM配件,帶給AFM用戶更多驚喜,體驗的原子力顯微鏡功能

        • 產品型號:
        • 廠商性質:經銷商
        • 更新時間:2021-04-20
        • 訪  問  量:1848

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        詳細介紹

        MultiMode 8 原子力顯微鏡屬于掃描探針顯微鏡,得到客戶的高度認可,迄今為止數以萬計的MultiMode 8 原子力顯微鏡已經在成功安裝使用。其世界的超高分辨率,完備的儀器性能,的多功能性,以及得到充分驗證的*表現和實驗可靠性,奠定了其在AFM領域的。

        Bruker始終致力于為用戶提供的解決方案,總結成功的經驗,不斷創新,推出了MultiMode系列的型號MultiMode8。使用Bruker的技術Peak Force Tapping掃描模式,獲得更多的樣品信息,操作更簡單,性能更優越,大大提高了工作效率。

        技術指標:

        配置選項:

        光學頭(任選其一)

        標準光學頭(Standard支持除應用模塊以外的所有模式;

        可支持應用模塊光學頭(Application module ready支持可選的CAFM, TUNA,SCM, SSRM 模塊

        可支持應用模塊的非磁性光學頭(Non-magnetic, Application module ready可在磁場中使用

        掃描器(必選其一)

        AS-0.5 scanner–0.4μm x 0.4μm XY and  0.4μm Z range;

        AS-12 scanner–10μm x 10μm XY and  2.5μm Z range (非垂直下針);

        AS-12VLR scanner –10μm x 10μm XY and  2.5μm Z range (垂直下針),  防漏液,4年由液體損壞質保;

        AS-130VLR scanner–125μm  x 125μm  XY and  5μm Z range (垂直下針), 防漏液,4年由液體損壞質保;

        AS-12NM scanner–10μm x 10μm XY and  2.5μm Z range (非垂直下針),可在磁場中使用

        AS-130NM scanner –125μm  x 125μm  XY and  5μm Z range (非垂直下針),可在磁場中使用

        PicoForce scanner –40μm x 40μm XY and  20μm Z range,針對Z方向閉環力譜應用;

        MMAFMXYZ–100μm  x 10μm XY and  15μm Z range,XYZ三方向閉環,不推薦在液態環境中使用

        標準附件

        MultiMode8標準配置包括:

        –OMV光學輔助觀察系統,10倍物鏡,用于觀察針尖、樣品和激光

        用于大氣下的探針架

        扭轉共振模式用探針架;

        –MFM磁力顯微鏡配件包,帶有標準樣品與探針;

        校準光柵,用于校準掃描頭

        通用各類型探針

        選配件

        MultiMode 8選配件包括:

        液態環境中用探針架

        定量納米力學性能測試配件包(PeakForce QNM technology

        樣品加熱臺,可在室溫至60°C范圍內對樣品加熱(可配以上所有Scanners)

        樣品加熱冷切臺,可在-35 to 250°C范圍內對樣品進行溫度調節(包含一個

        掃描頭:125μm x 125μm XY and 5μm Z range)

        環境控制腔,可在惰性氣體或濕度下成像

        掃描隧道顯微鏡掃描頭,有標準電流和超低電流兩種版本

        通用雙恒電位儀,用于電化學環境成像(ECAFM and ECSTM)

        –Conductive AFM (CAFM) application module導電原子力應用模塊

        –Tunneling AFM (TUNA) application module隧道電流原子力應用模塊

        –Scanning Spreading Resistance Microscopy (SSRM) application module掃描擴散電阻應用模塊

        –Scanning Capacitance Microscope (SCM) application module掃描電容應用模塊

        納米壓痕,帶金剛石探針

        力調制模式探針架

        –Signal Access Module用于模擬和數字信號的輸入/輸出

        防震臺(選擇其一,或客戶自己提供)

        VT-102氣動防震臺,24英寸x 24英寸x 31英寸高(需要壓縮空氣);

        VT-50被動式防震臺,16.75英寸x  16.75英寸x 8.5英寸高(無需壓縮空氣);

        TRVI三角彈簧防震臺

        系統指標:

        系統噪音水平

        <0.3?RMS (Z方向噪音水平,使用輕敲模式,0納米掃描尺寸)

        樣品尺寸

        15mm 直徑x  5mm 厚度

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